校準是指測厚儀的制造商在制造過程中設置的過程，以確保測厚儀符合所需的精度規范。該程序通常要求將
日本KETT測厚儀設置為已知厚度值，并檢查中間厚度值。在現代電子儀器中，涂層厚度范圍內關鍵點的值作為參考點存儲在儀表存儲器中。
為什么測試之前需要校準KETT測厚儀？
測厚儀的校準將受到待測金屬基板的材料類型、形狀和表面光潔度的影響。例如，鋼合金的磁性能不同，不同鋁合金和不同有色金屬、銅、黃銅、不銹鋼等的導電性也不同。這些變化會影響涂層測厚儀的線性度。
這意味著，在低碳鋼上設置的測量儀將讀取高碳鋼上相同厚度涂層的不同值。類似的線性效應也出現在薄的或彎曲的基底上，特別是在壓型基底上，如用于鋼結構的噴砂清理鋼。為了克服這些影響，大多數測厚儀的特點是，將測厚儀設置為正在進行的工作，從而提高讀數的準確性。
KETT測厚儀的校準方法：
1、零點校準：單點校準—適用于平滑基體表面，將探頭放在沒有涂層的基體上，儀器將自動校準。
2、平滑校準：兩點校準—用戶選擇合適的校準膜片和平滑、無涂層基體。
3、粗糙基體/兩點校準：適用于粗糙或者異形基體，用兩個已知厚度的膜片，一個高于，另一個低于被測涂層的厚度。
4、自動校準：適用于重復測量，用戶將已知的校準膜片厚度值存入儀器，當開始校準時，用戶根據屏幕提示校準儀器，日本KETT測厚儀將自動調整存入的膜片厚度值---校準過程簡單、快捷。
在ISO19840標準中，任何規定的（或設計的）厚度即被認為是ISO12944-5中定義的額定干膜厚度，而干膜厚度是指粗糙表面峰頂以上的有代表性的涂層厚度。
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